Mini-LED和Micro-LED显示技术成为了近期的热点技术。这两种新技术和现在的LCD及OLED技术相比有什么优势和联系呢？

从上图可以看出每种显示技术的差异，目前行业在从LCD时代进入OLED时代，未来还将迈入Micro-LED时代；而Mini-LED作为一种过渡性的产品，当背光使用时将延续中大尺寸LCD的寿命，当显示屏使用时，将作为目前LED屏向Micro-LED屏进化的过渡品。

到底什么是Mini-LED和Micro-LED？

图片来源：“MiniLED在显示器领域的应用：LCD和数字标牌”，Yole Développement报道，2018年10月。

简单说，Mini-LED和Micro-LED就是尺寸更小的LED，Mini-LED通常定义在100-500um，而Micro-LED就要到50-100um以下（当然以上两者技术之间的尺寸的界定是有些模糊的，业界有不同定义）；尺寸的不同，会导致工艺的巨大差异；Mini-LED是在现有的LED的工艺基础上进一步缩小尺寸，所以属于“量变”级别；而Micro-LED就要达到“质变”的变化，将是未来几年替代OLED的革命性技术，这也是苹果公司在几年前就大力投入研发的原因。但是Micro-LED要真正进入量产，必须克服巨量转移、全彩显示、亮色度均匀性的问题，所以应该还需要好几年。

• 应用一：背光应用（Mini-LED）

• Mini-LED可以帮助LCD实现真正的Local Dimming。比如下面来自BOE的Mini-LED技术示意图中，传统侧入式LED背光是整体常亮的，所以黑色画面部分还是会有光线漏出来。

而Mini-LED的Local Dimming技术让LCD在显示暗的局部画面时，不仅降低液晶透过率，同时降低该区域的Mini-LED的亮度，用户最终看到的这个区域的亮度就可以非常低，低亮度的大幅降低就可以大大提高整个显示画面的对比度，而这正是LCD一直被OLED技术诟病的攻击点；

上图是TCL展示的Local Dimming技术，当使用Local Dimming并且Mini-LED的分区数量越多时，月球上的亮区和周围的暗区越能更精确地实现高对比度；

• 应用二：RGB全彩屏（Mini-LED和Micro-LED）

• 使用Mini-LED或Micro-LED来显示RGB像素，就能实现自发光的显示屏，比如我们日常所见的LED大屏；当然，尺寸越小，工艺难度越高；比如AR/VR需要更高的ppi和高亮度，所以Micro-LED就是最理想的显示屏；在最新的2020年的CES展上，已经出现了5000PPI高分辨和300万nit亮度的Micro-LED产品。

• Color Vision的产品的应用

• Color Vision的成像式亮度色度测量

Color Vision的成像亮度计和色度计可以帮助客户检测和校正这些新型显示产品。

• 缺陷检测：Color Vision的成像亮度色度计可以直接检测每颗LED的亮度值，筛选出过亮或过暗的LED灯珠；也可以检测各种块状的mura；这与对LCD或OLED的进行的点缺陷、线缺陷和mura检测比较类似；

• Demura：也就是消除mura，以使屏幕达到均匀一致，可以是亮度demura，也可以是色度demura；Color Vision的成像亮度色度计不仅可以校正Mini-LED背光，也可以对LCD/OLED/Micro-LED屏进行demura。

• 使用Color Vision的成像式亮度计和色度计，还可以实现其他以下测试指标

• 均匀性：评估不同位置亮度、色度均匀性指标；

• 对比度：评估显示屏最亮和最暗的亮度比对；

• 白平衡：评估显示屏的红/绿/蓝三种基本色的显示比例，让颜色准确显示；

• 伽马Gamma测试：可以理解为不同亮度灰阶下的白平衡，让颜色在不同亮度下都能准确显示；

• 色域：评估显示屏能显示的红/绿/蓝三种基本色组成的色空间的面积；

• 可视角：评估显示屏在不同角度下亮度和色度变化；

• 闪烁度：评估显示画面亮度随时间的波动情况；

• 缺陷检测和Demura

制造过程中，显示屏难免会产生各种缺陷，如常见的有点缺陷、线缺陷、块状类缺陷（如漏光/Mura）等。

除了可以用成像式光度计和软件算法进行缺陷的检测外，还可以使用成像式光度计来进行缺陷补偿，如业内常称的“Demura”。Demura工序对OLED产品的良率提升是非常关键。